Ir al contenido
  1. Todos los productos
  2. Microscopios de Laboratorio
  3. Microscopia de fuerza atomica
Lista Web CLP
Microscopia de fuerza atomica

Microscopia de fuerza atomica

https://www.cotecno.cl/web/image/product.template/581282/image_1920?unique=dfebc3d

Requiere cotización

Esta combinación no existe.

Descargar catalogo (PDF)
golive
Contáctanos
SKU: B2-01-010668

 

Compartir

Descripcion General

Introducción: La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) es una técnica de imagen de alta resolución que se utiliza para analizar las características de superficies a escala nanométrica.

La AFM se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para el estudio de superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores obtener mapas topográficos con precisión atómica.

Caracteristicas clave

  • Modelo
  • Tamaño de la muestra Ф≤90mm, Alto≤20mm
  • Escáneres disponibles 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
  • Resolución de escaneo 0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
  • Rango de movimiento de muestra ±6,5 mm
  • Ancho de pulso del motor paso a paso 10±2ms

Resumen de variantes

ModeloModos de trabajoTamaño de la muestraSKU
microscopia de fuerza atoModo de contacto y modo de lapeado Modos opcionaleDiámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mmB2-01-010668

Datos Técnicos

  • Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeado Modos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
  • Tamaño de la muestraDiámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm
  • Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
  • Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
  • Rango de movimiento de la muestra±6,5 mm
  • Ancho de pulso del motor paso a paso10±2 ms
Medición y precisión
Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
Rango de movimiento de la muestra±6,5 mm
Temperatura y ambiente
Puntos de muestreo de imágenes512*512
Capacidad y muestras
Tamaño de la muestraDiámetro exterior ≤ 90 mm, altura ≤ 20 mm
Control y operación
Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeado Modos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
Control de escaneoD/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z
Eléctrico
Frecuencia de muestreo de retroalimentación64 kHz
Dimensiones y peso
Tamaño del paquete550*550*1150 mm
Peso bruto65 kilos
General
Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
Ancho de pulso del motor paso a paso10±2 ms
Aumento óptico 4XResolución óptica 2,5 μm
Frecuencia de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 HzÁngulo de escaneo 0°~360°
Muestreo de datosMuestreo síncrono multicanal A/D de 14 bits y doble A/D de 16 bits
ComentarioRetroalimentación digital DSP
Interfaz de computadoraUSB 2.0
Sistema operativoWindows XP/7/8/10
Suministro de energíaCA 220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional)
Microscopio de fluorescencia
Microscopio de fluorescencia
$ 0
Microscopio de fluorescencia
Microscopio de fluorescencia
$ 0